• 一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法
    [摘要]

    随着VLSI的发展,可测性将成为芯片设计的主要依据,本文论述了ASIC可测性的三种设计方法,并对三种方法做出了比较,最后给出了一个使用的可测性设计环境TEN(TEST ENGINEERING ENVIRONMENT)

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    上传时间:2019/02/25
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