• 一文讀懂三種ASIC的可測試性設計方法
    [摘要]

    隨著VLSI的發展,可測性將成為芯片設計的主要依據,本文論述了ASIC可測性的三種設計方法,并對三種方法做出了比較,最后給出了一個使用的可測性設計環境TEN(TEST ENGINEERING ENVIRONMENT)

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    上傳時間:2019/02/25
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